頻譜(pu)分析(xi)儀可以進(jin)行信號的測量，比如基站信號的覆蓋強度，覆蓋范圍(wei)，屏蔽(bi)器的信號屏蔽(bi)效果，發射頻段、以及一些(xie)電器設備(bei)的電磁泄露等。在一些(xie)科研單位(wei)或測評(ping)單位(wei)，測評(ping)一些(xie)設備(bei)是否符合標準時。主要功(gong)能在于(yu)量測信號的大小或振幅，還于(yu)應用系統維護(hu)組件的頻率(lv)增益(yi)與物料品管等其他(ta)方面(mian)。
頻(pin)譜(pu)分析儀測(ce)試前的準(zhun)備工作有那些：
1、限制性保護：規定最高輸入射(she)頻電平(ping)和造成(cheng)損壞的最高電壓值(zhi)：直流25V，交流峰(feng)峰(feng)值(zhi)100V。
2、預熱：測試須等(deng)到OVERCOLD消失(shi)。
3、自校：使(shi)用(yong)三個月，或重要測(ce)量前，要進(jin)行(xing)自校。
4、系(xi)統測(ce)量配(pei)置(zhi)：配(pei)置(zhi)是測(ce)量之前(qian)把測(ce)量的一些參數輸入(ru)(ru)進去(qu)，省去(qu)每(mei)次(ci)測(ce)量都進行一次(ci)參數輸入(ru)(ru)。
內(nei)容：測試(shi)項目、信號輸入(ru)方式(頻(pin)(pin)率(lv)還(huan)是頻(pin)(pin)道)、顯(xian)示(shi)單位(wei)、制式、噪聲測量帶寬和取樣點、測CTB、CSO的頻(pin)(pin)率(lv)點、測試(shi)行選通等。
頻譜分析(xi)儀(yi)讀取(qu)結(jie)果的方法(fa)：
1、電(dian)平(ping)的(de)讀取：主要使用參(can)考電(dian)平(ping)REF。儀器屏(ping)幕(mu)圖(tu)形上(shang)最(zui)上(shang)邊(bian)的(de)一行水平(ping)線是參(can)考電(dian)平(ping)線。該線表示(shi)的(de)電(dian)平(ping)為參(can)考電(dian)平(ping)，其數值和單位顯示(shi)在(zai)屏(ping)幕(mu)左上(shang)角(jiao)。參(can)考電(dian)平(ping)的(de)值可以(yi)(yi)改(gai)變：按AMPLITUDE硬(ying)鍵，旋(xuan)轉大旋(xuan)鈕就可以(yi)(yi)改(gai)變，數字隨時顯示(shi)出來。圖(tu)形每格的(de)分(fen)貝數dB/DIV顯示(shi)在(zai)屏(ping)幕(mu)左上(shang)角(jiao)。
2、頻(pin)(pin)(pin)率(lv)的(de)讀取(qu)：圖形里(li)的(de)中(zhong)心頻(pin)(pin)(pin)率(lv)、起(qi)始(shi)頻(pin)(pin)(pin)率(lv)、終(zhong)止頻(pin)(pin)(pin)率(lv)三條豎線，各自(zi)代表的(de)頻(pin)(pin)(pin)率(lv)數顯示在屏幕的(de)下方。中(zhong)心頻(pin)(pin)(pin)率(lv)由Frequency硬鍵旋大(da)旋鈕(niu)調整(zheng)(zheng)；起(qi)始(shi)和終(zhong)止頻(pin)(pin)(pin)率(lv)由Span硬鍵旋大(da)旋鈕(niu)調整(zheng)(zheng)(實際是(shi)改(gai)變(bian)掃描寬(kuan)度)。
3、光(guang)標(biao)(biao)的(de)使用：按MKR鍵(jian)，屏(ping)幕(mu)曲(qu)線上將(jiang)出現閃(shan)動的(de)光(guang)標(biao)(biao)。光(guang)標(biao)(biao)所在位置的(de)電(dian)平和頻(pin)率(lv)顯示在屏(ping)幕(mu)左上角。光(guang)標(biao)(biao)可任意移動，移動到什么(me)位置，就顯示什么(me)地方的(de)頻(pin)率(lv)和電(dian)平。
